インサーキットテストとバウンダリスキャンテストの連携JPCA2024

従来モデルよりプラットフォームを一新し、プローブ移動速度を最大50％アップさせるとともに、コンタクト位置精度を飛躍的に向上させました。フレキシビリティに富んだ新しい高精度･広範囲測定システムや、画期的な4ヘッド6フライングプローブ機構によって、基板品種・生産量を問わず、実装工程における検査コストの削減・品質向上に多大な効力を発揮します。

★岡山本社/東京支店のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストができます★
検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。
ご希望の方は下記『お問い合わせ』よりお申込みください。
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APT-1340Jの基本性能はそのままに、対応基板サイズをW635×D610mmまで拡大したモデルです。
さらに、オプションの分割検査機能を追加することで、最大W985×D610mmの長尺基板の検査が可能です。

搭載部品高さ60mm、基板重量10kgまで対応できますので、車載/航空機/医療機器などに使用される基板や、
電源基板・プローブカードなど、サイズが大きく重量のある基板の検査に適しています。

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※製品についてはPDFをダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせください。 （詳細を見る）

基板の上面に4本、下面に２本のプローブを配置。 それぞれが自在に高速移動し、
世界最高水準の驚異的な検査スピードを実現するフラッグシップモデルです。

上下のフライングプローブを同時使用した、最大6プロープのコンビネーション検査で
基板の上面・下面の両ポイントへの同時コンタクト検査を可能としました。

検査可能範囲を大幅に拡大し、検査時間のさらなる高速化を実現しています。
豊富な機能を備え、スピードや位置決め精度においても世界最高水準を誇ります。

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上下のフライングプローブを同時使用した、最大6プロープのコンビネーション検査で
基板の上面・下面の両ポイントにコンタクトが可能な部品の検査を可能としました。

スピードや位置決め精度においても世界最高水準を誇りつつ、
対応基板サイズをW635×D610mmまで拡大したモデルです。

さらに、オプションの分割検査機能を追加することで、最大W985×D610mmの長尺基板も検査可能です。

搭載部品高さ60mm、基板重量10kgまで対応できますので、車載/航空機/医療機器などに使用される基板や、
電源基板・プローブカードなど、サイズが大きく重量のある基板の検査に適しています。

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フライングプローブテスタによるインサーキットテストは、アナログ回路における実装電子部品の電気特性検査を得意としております。しかし、プロービングできない部品は電気的検査が困難で、デジタル回路の機能検査は難しいです。一方、バウンダリスキャンテストは、LSIピン間の相互接続検査・FPGA等へのオンボードプログラミングが短時間で行えますが、バウンダリスキャン規格に準拠しているIC周辺のデジタル回路のみ検査可能で、接続に専用の治具を要するという課題もあります。

タカヤ株式会社では、バウンダリスキャンテストで必要となる4～5本のスキャン対応ピンと計測器を繋ぐ治具の代わりに、フライングプローブを用いる技術を保有しております。これによって、バウンダリスキャン準拠ICの相手先が 非バウンダリスキャン準拠IC・受動部品(コネクタ等)であっても、フライングプローブを仮想バウンダリスキャンセルとして機能させることで、バウンダリスキャンテストを行っていただくことが可能です。

フライングプローブテスタ一台で、デジタル/アナログ回路の両方を一括検査できるなど、今まで以上に検査効率を高められる技術です。




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特集内容
　■ＢＧＡ実装基板検査の最新動向
　　フライングプローブテスタとＪＴＡＧテストのハイブリッド検査
　　　アンドールシステムサポート株式会社　／　谷口　正純 氏
　　　タカヤ株式会社　／　柳田　幸輝

概要
BGA（Ball Grid Array）部品は、民生品から産業機器、近年では車載機器まで、あらゆる電子機器に使用されるようになった。一方でBGA部品が実装された基板（以下、BGA実装基板と呼ぶ）を確実に検査する方法は確立されていない。これはどのような検査手法にもメリットとデメリットが存在し、1つの検査手法のみで完全なテストを行うことはできないためである。したがって現在、多くの企業でBGA実装基板の検査が課題となっている。今回はそれに対する1つの解として、フライングプローブテスタとJTAG（ジェイタグ）バウンダリスキャンを組み合わせたハイブリッド検査についての最新の技術動向を紹介する。

1，はじめに
2，BGA実装基板の検査と課題
3，電気検査の可能性
4，インサーキットテスト
5，JTAGバウンダリスキャンテスト
6，ハイブリッドテスト
7，まとめ （詳細を見る）

2024年6月12日 ～ 6月14日の期間 東京ビッグサイトで開催されました「電子機器トータルソリューション展2024 (JPCA Show 2024) / JISSO PROTEC 2024」にて、タカヤ株式会社ブースにご来場頂いた皆様ありがとうございました。出展した製品の情報を公開しています。内容に関するご質問・ご相談などございましたら、お気軽にお問い合わせください。

また、今回の出展に際し「JTAG検査とフライングプローブテスタを組み合わせたハイブリッド検査システム」で、第20回「JPCA賞（アワード）」を受賞し、本アワード受賞に関する紹介パネルを会場内に展示頂きました。 （詳細を見る）