【大反響セミナー資料】外観検査システムの課題と限界　～微細かつ複雑な欠陥の検知精度と、 　インテグレーションの難しさ～v1.0

・外観検査の背景と課題
市場伸長が見込まれる画像処理システム市場の現状と、
外観検査自動化のメリット、検査装置導入時・導入後の課題について、
纏めております。

・微細化が進む電子回路基板のパターン検査課題
複雑化・微細化していき、検出が難しい電子回路基板のパターン欠陥について、当社で独自開発した検査手法をご紹介します。

・複数光学条件が必要な外観検査自動化における課題
対象物に対して様々な欠陥検出が必要な検査において、複数照明条件を
利用するケースがございます。最新の照明装置を用いた検査技術をご紹介しております。

・画像処理検査URCPのご紹介
画像処理検査URCPとは、ハードウェアとソフトウェアの両面から画像処理検査の【最適化】をご支援します。お客様のご要望に合わせて、画像処理検査装置をオールインワンでご提供いたします。
１．自社開発ソフトウェア※カスタマイズも可能
２．各種欠陥に合わせた光学条件・機器を選定
３．仕様に合わせた検査装置の設計・組立・納品 （詳細を見る）

『URCP』は、様々な業種・製品の検査で導入実績がある、当社製の
画像処理ソフトウェアをパッケージングしたシステム構築ソリューションです。

検査対象や条件などニーズに適したソフトウェアの提案・カスタマイズや
新規開発、光学機器の選定や、検査装置の設計・組立・搬送・納品、
アフターフォローまで、画像処理検査の最適化をトータルサポートします。

現在、ソリューションの導入事例を進呈中です。

【導入事例】
■微小欠陥・クラックの検出（電子部品メーカー）
■増産に伴う検査タクトの向上（電子部品メーカー）
■不定形物の全数自動検査（パッケージメーカー）

※導入事例は「PDFダウンロード」よりすぐにご覧いただけます。
　お問い合わせもお気軽にどうぞ。 （詳細を見る）

・外観検査の背景と課題
市場伸長が見込まれる画像処理システム市場の現状と、
外観検査自動化のメリット、検査装置導入時・導入後の課題について、
纏めております。

・微細化が進む電子回路基板のパターン検査課題
複雑化・微細化していき、検出が難しい電子回路基板のパターン欠陥について、当社で独自開発した検査手法をご紹介します。

・複数光学条件が必要な外観検査自動化における課題
対象物に対して様々な欠陥検出が必要な検査において、複数照明条件を
利用するケースがございます。最新の照明装置を用いた検査技術をご紹介しております。

・画像処理検査URCPのご紹介
画像処理検査URCPとは、ハードウェアとソフトウェアの両面から画像処理検査の【最適化】をご支援します。お客様のご要望に合わせて、画像処理検査装置をオールインワンでご提供いたします。
１．自社開発ソフトウェア※カスタマイズも可能
２．各種欠陥に合わせた光学条件・機器を選定
３．仕様に合わせた検査装置の設計・組立・納品 （詳細を見る）