超解像顕微鏡 N-SIM E

株式会社ニコンソリューションズ 超解像顕微鏡 N-SIM Eは、超解像顕微鏡N-SIM Sと同じ高分解能の超解像画像を取得することが可能な、パーソナルタイプの超解像顕微鏡です。構造化照明顕微鏡法を採用し、従来の光学顕微鏡の2倍という、光の回折限界をはるかに超えた超高解像イメージングが可能です。

〇特長
・従来の光学顕微鏡の2倍の解像力
・超解像画像を、約1秒／枚で手軽に取得
・広視野の超解像画像を取得
・3D-SIMモードによるZ軸方向の超解像観察
・3本のレーザーを用いた多色超解像イメージングが可能

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