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最終更新日:2023-10-26 17:50:51.0

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超高感度 微粒子可視化専用カメラ「パーティクルアイ」シリーズ

基本情報超高感度 微粒子可視化専用カメラ「パーティクルアイ」シリーズ

独自画像処理技術「ViESTエンジン」を搭載した、微粒子の挙動や気流を映像化できる可視化専用超高感度カメラ!【Webデモ実施中】

超高感度 微粒子可視化専用カメラ「パーティクルアイ」は、粒子からの微弱な散乱光の検出や定量化に特化したデジタルカメラです。独自開発の高速画像処理技術ViEST(R)エンジンを搭載し、高感度な撮影と同時に定量化が可能になります。
 超高感度な可視化性能を共有しつつ、ニーズに合わせて3種類のラインナップから選択することができます。
■ 小型の標準モデル「パーティクルアイ STD」
■ 高速撮影に対応したモデル「パーティクルアイ HS」
■ 微弱光感度を追求した超高感度モデル「パーティクルアイ EX」

【異物管理】浮遊粒子・付着粒子 可視化評価システム

【異物管理】浮遊粒子・付着粒子 可視化評価システム 製品画像

製造ラインや出荷前検査における異物混入問題を数多く解決してきた微粒子可視化システム。その構成品の一つである超高感度カメラがリニューアルし、高感度性能がさらに向上しました。
付属のソフトウェアには独自開発の高速画像処理技術が搭載され、微粒子の映像化と同時に定量データも即時取得できるようになりました。新たに映像の後処理ソフトも付属し、さらに様々な定量データを映像から取得できるようになりました。

■ニーズに合わせた超高感度ラインナップを用意しました
STD: 可搬性に優れたコンパクトモデル
HS: 高速度撮影対応モデル
EX: ナノ粒子の検出を追求したハイスペックモデル

■品質管理の様々なシーンで利用できます

■当社ホームページに実例映像が多数掲載されています。是非ご覧ください
 ⇒https://www.snk.co.jp/particle/example1.html

■可視化技術全般のWEB紹介や実演を随時承っています

■詳細はカタログダウンロードまたは下記リンク(当社ホームページ)へお気軽にお問合せください

■弊社専門スタッフによる受託評価も承っています (詳細を見る

【異物管理】浮遊微粒子・付着微粒子 可視化評価システム

【異物管理】浮遊微粒子・付着微粒子 可視化評価システム 製品画像

製造ラインにおける異物混入問題や環境悪化問題を数多く解決してきた微粒子可視化システム。
目には見えないほど小さな異物の映像化や、異物サイズや個数といった定量データの取得により、現場の改善に貢献します。

■ニーズに合わせた超高感度ラインナップを用意しました
  STD: 可搬性に優れたコンパクトモデル
  HS: 高速度撮影対応モデル
  EX: ナノ粒子の検出を追求したハイスペックモデル

■生産・品質管理の様々なシーンで利用できます

■当社ホームページに実例映像が多数掲載されています
  ⇒https://www.snk.co.jp/particle/

■可視化技術全般のWEB紹介や実演を随時承っています

■弊社専門スタッフへ現場評価を委託することもできます

■詳細はカタログダウンロードまたは当社ホームページへお気軽にお問合せください

■出展情報~様々なシステムやツールをご体感いただけます~
  2024.6.19~21開催「ものづくりワールド東京」に出展します。
  会場で是非ご体感ください。
  出展場所:東京ビッグサイト 東1ホール E8-22 (詳細を見る

【異物問題の解決へ】浮遊微粒子・付着微粒子 可視化評価システム

【異物問題の解決へ】浮遊微粒子・付着微粒子 可視化評価システム 製品画像

微粒子可視化システムは、製造ラインにおける異物混入問題や環境悪化問題を数多く解決してきました。
目には見えないほど小さな異物の映像化や、異物サイズや個数といった定量データの取得により、現場の改善に貢献します。

■ニーズに合わせた超高感度ラインナップを用意しました
  STD: 可搬性に優れたコンパクトモデル
  HS: 高速度撮影対応モデル
  EX: ナノ粒子の検出を追求したハイスペックモデル

■生産・品質管理の様々なシーンで利用できます

■当社ホームページに実例映像が多数掲載されています
  ⇒https://www.snk.co.jp/particle/

■可視化技術全般のWEB紹介や実演を随時承っています

■弊社専門スタッフへ現場評価を委託することもできます

■詳細はカタログダウンロードまたは当社ホームページへお気軽にお問合せください

■出展情報 ~様々なシステムやツールをご体感いただけます~
  2024.10.2~4開催「国際水素・燃料電池展」に出展します。
  会場で是非ご体感ください。
  出展場所:幕張メッセ 8ホール E25-6 (詳細を見る

【異物混入問題の解決に】 浮遊・付着微粒子 可視化評価システム

【異物混入問題の解決に】 浮遊・付着微粒子 可視化評価システム 製品画像

微粒子可視化システムは、製造ラインの異物混入問題やクリーン度の悪化問題を数多く解決してきました。
目では見えない微小な異物を高感度に映像化する技術と、サイズや個数といった異物データの定量化により現場の改善に貢献します。

■高感度システムの多彩なラインナップを用意しました
 STD: 可搬性に優れたコンパクトモデル
 HS: 高速度撮影対応モデル
 EX: ナノ粒子の検出を追求したハイスペックモデル

■生産・品質管理の様々なシーンで利用可能です

■当社ホームページに実例映像が多数掲載されています
 ⇒https://www.snk.co.jp/particle/

■可視化技術全般をWEBデモで紹介しています

■弊社専門スタッフに現場評価を委託することもできます

■詳細はカタログダウンロードまたは当社ホームページへお気軽にお問合せください

■出展情報
 2024.12.11~13開催「SEMICON Japan」に出展します。
 出展ブース:東京ビッグサイト 東6ホール 6926
 <各種システム・ツールを手に取ってご体感いただけます> (詳細を見る

取扱会社 超高感度 微粒子可視化専用カメラ「パーティクルアイ」シリーズ

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微粒子や気流の可視化等の調査技術による受託評価業務、改善提案、および商品販売。

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