東京晨美光学電子株式会社
最終更新日:2024-05-17 16:29:42.0
【構造解析事例】衝撃解析日本語
【解析事例】衝撃解析
当社では、マイクロレンズの信頼性向上を目指し、実際の信頼性試験に
基づいた落下衝撃シミュレーションを行っております。
実際の衝撃試験条件を再現し、レンズ変形や応力の発生状態を緻密に解析。
得られたデータはレンズユニットの構造上の弱点を特定し、設計の改善点を
明らかにします。
レンズユニット単体、VCMやOISを組み合わせたカメラモジュールの解析、
その他さまざまなレンズユニットや光学デバイスについて対応いたします。
【事例概要】
■実際の衝撃試験条件を再現、レンズ変形や応力の発生状態を緻密に解析
■レンズユニットの構造上の弱点を特定、設計の改善点を明らかにする
■製品開発において信頼性向上と設計最適化に有益
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 (詳細を見る)
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