東京晨美光学電子株式会社
最終更新日:2024-05-17 16:29:42.0
【構造解析事例】落下解析1日本語
【解析事例】落下解析1
当社では、マイクロレンズの信頼性評価の一環として、実際の信頼性
試験条件を再現した落下衝撃シミュレーションを実施しております。
所定の高さからマイクロレンズを搭載した落下治具を落下させ、
加速度と応力を評価。シミュレーション結果は製品の物理的な
影響を詳細に定量化し、落下時の損傷や変形の可能性を予測。
当事例は、製品信頼性向上において落下衝撃シミュレーションが
不可欠であることを示しております。
【事例概要】
■加速度と応力を評価
■落下時の損傷や変形の可能性を予測
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 (詳細を見る)
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