深層強化学習を用いたフライングプローブテスタの検査高速化【愛媛大学様共同研究資料】JPCA Show 2024

2024年6月12日 ～ 6月14日の期間 東京ビッグサイトで開催されました「電子機器トータルソリューション展2024 (JPCA Show 2024) / JISSO PROTEC 2024」にて、タカヤ株式会社ブースにご来場頂いた皆様ありがとうございました。出展した製品の情報を公開しています。内容に関するご質問・ご相談などございましたら、お気軽にお問い合わせください。

また、今回の出展に際し「JTAG検査とフライングプローブテスタを組み合わせたハイブリッド検査システム」で、第20回「JPCA賞（アワード）」を受賞し、本アワード受賞に関する紹介パネルを会場内に展示頂きました。 （詳細を見る）

従来モデルよりプラットフォームを一新し、プローブ移動速度を最大50％アップさせるとともに、コンタクト位置精度を飛躍的に向上させました。フレキシビリティに富んだ新しい高精度･広範囲測定システムや、画期的な4ヘッド6フライングプローブ機構によって、基板品種・生産量を問わず、実装工程における検査コストの削減・品質向上に多大な効力を発揮します。

★岡山本社/東京支店のデモルームにて、基板を持込み頂いての評価テストができます★
検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。
ご希望の方は下記『お問い合わせ』よりお申込みください。
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APT-1340Jの基本性能はそのままに、対応基板サイズをW635×D610mmまで拡大したモデルです。
さらに、オプションの分割検査機能を追加することで、最大W985×D610mmの長尺基板の検査が可能です。

搭載部品高さ60mm、基板重量10kgまで対応できますので、車載/航空機/医療機器などに使用される基板や、
電源基板・プローブカードなど、サイズが大きく重量のある基板の検査に適しています。

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検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能です。
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※製品についてはPDFをダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせください。 （詳細を見る）

基板の上面に4本、下面に２本のプローブを配置。 それぞれが自在に高速移動し、
世界最高水準の驚異的な検査スピードを実現するフラッグシップモデルです。

上下のフライングプローブを同時使用した、最大6プロープのコンビネーション検査で
基板の上面・下面の両ポイントへの同時コンタクト検査を可能としました。

検査可能範囲を大幅に拡大し、検査時間のさらなる高速化を実現しています。
豊富な機能を備え、スピードや位置決め精度においても世界最高水準を誇ります。

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上下のフライングプローブを同時使用した、最大6プロープのコンビネーション検査で
基板の上面・下面の両ポイントにコンタクトが可能な部品の検査を可能としました。

スピードや位置決め精度においても世界最高水準を誇りつつ、
対応基板サイズをW635×D610mmまで拡大したモデルです。

さらに、オプションの分割検査機能を追加することで、最大W985×D610mmの長尺基板も検査可能です。

搭載部品高さ60mm、基板重量10kgまで対応できますので、車載/航空機/医療機器などに使用される基板や、
電源基板・プローブカードなど、サイズが大きく重量のある基板の検査に適しています。

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