4CH 部分放電試験セット 半導体試験用 TTS 製品カタログ（英語）

部分放電試験システムTTSは、VDE 0884、IEC 60747-5-5、UL1 577に準拠したルーチン試験における半導体（オプトカプラ、デジタルアイソレータ）の高電圧（HI-Pot）および部分放電試験用に特別に開発されました。部分放電試験システムは、ピーク電圧18.3 kVまでの試験電圧に対応しています
部分放電、試験電圧（UrmsとUpeak）、試験体電流、試験体容量は高精度で測定されます。
部分放電試験システムは、試験電圧、電流、部分放電を表示する19 ” ハウジングに組み込まれた制御・測定ユニットで構成されています。高電圧発生部は高電圧モジュール内にあります。このモジュールは、様々なハンドラーまたは手動測定ステーションに取り付けることができます。MPSは、お客様独自のシステムに統合することで、測定および試験システムのサポートを提供します。
部分放電試験システムは、開発用だけでなく、ハンドラーを使用した生産での100％試験用としても利用可能です。手動組立用の手動測定ステーションは、開発またはプロトタイプのテストに利用できます。最大4台のハンドラーを制御コンピュータに接続できます。 （詳細を見る）

TPP型部分放電試験システムは、電気部品の非破壊絶縁・品質試験（VDE 0110-1、EN 50178、IEC 60270、IEC 60060など）に使用されます。
この試験セットは、開発、生産、品質保証における試験を可能にします：

● 部分放電測定装置（TMG）は、実効電圧とピーク電圧の測定、および電流測定を統合しています。
● シールドされたPDフリー高電圧部
● 電子式過電流シャットダウン付き制御ユニット（STE）

MPSの標準テストセットは、3～20 kVのテスト電圧に対応しています。それ以上の電圧については、お問い合わせください。オプション

● 試験体を通した電流測定
● 高電圧部分放電パルス校正器（TPK-H）内蔵
● 直流電圧と電流の測定
● 高電圧スイッチ、複数のテスト項目を測定するため （詳細を見る）

部分放電測定装置TMGは、VDE 0434およびIEC 60270に従って開発された部分放電試験のために、わかりやすさと使いやすさの観点から特別に開発されました。 （詳細を見る）

VDE 0434、IEC 60270、EN 50178、VDE 0884、IEC60747-5-5、UL 1577 などに準拠した中・高電圧コンポーネントの部分放電の実験室またはオンサイト測定用です。

部分放電(PD)は、欠陥や不均一な部分で発生する局所的な放電です。部分放電測定は、絶縁材料の品質を判定するためのいわゆる「非破壊試験」です。純粋な高電圧試験とは異なり、低いPDレベルでは試験品は事前に損傷されません。

部分放電測定には、少なくとも1つのカップリングコンデンサ、測定インピーダンス、部分放電測定装置（PDメーター）が使用されます。

MPS部分放電試験セットとPD-メーターはIEC60270とIEC60060に準拠しています。

高電圧（Hi-Pot）および部分放電試験は、VDE 0884、IEC 60747-5-5、IEC 60664、IEC 61730-2、UL 1577などに準拠して実施できます。 （詳細を見る）

【構成】
● 部分放電計 TMG
● PDパルスデカップリング用高電圧カップリングコンデンサ （詳細を見る）