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最終更新日:2024-11-20 16:49:39.0

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ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム『ELSZneo』

ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム『ELSZneo』

ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム『ELSZneo』 製品画像

『ELSZneo』は、ELSZseriesの最上位機種で希薄溶液~濃厚溶液でのゼータ電位・
粒子径測定に加え、分子量測定を可能にした装置です。

新しい機能として粒度分布の分離能を向上させるため多角度測定を採用。また
粒子濃度測定やマイクロレオロジー測定、ゲルの網目構造解析も可能にしました。

新しくなったゼータ電位平板セルユニットは、新開発した高塩濃度対応
コーティングにより、生理食塩水などの高塩濃度環境下での測定が可能です。

【特長】
■希薄から濃厚溶液(~40%)まで幅広い濃度範囲の
 粒子径・ゼータ電位測定が可能
■多角度測定により、分離能の高い粒子径分布の測定が可能
■平板状サンプルのゼータ電位を高塩濃度下で測定が可能
■静的光散乱法を用いて粒子濃度の測定が可能
■動的光散乱法によりマイクロレオロジー測定が可能

※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。 (詳細を見る

取扱会社 ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム『ELSZneo』

大塚電子株式会社

(1) 科学機器、光学機器、医療機器、工業計測機器および同部品   ならびに附属品の開発、製造、販売、修理および輸出入 (2) 試薬の製造、販売および輸出入 (3) 前各号に附帯する一切の事業

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