材料分析の基礎 教科書-XRD・LD・DLS

ゼータサイザーアドバンスシリーズは、ご好評いただき多くの台数を導入させていただいたゼータサイザーナノの新モデルです。

ゼータサイザーアドバンスシリーズの3モデルは、粒径、粒子荷電(ゼータ電位)および分子量の分析に対応します。 さらに、適応相関、M3-PALSゼータ電位分析、定電流ゼータモード、ディープラーニングベースのデータ品質アドバイスシステムなどの高度な機能を備えています。

これら3つのモデルにはそれぞれ、ブルーラベルとレッドラベルのバージョンをご用意しています。

・ブルーラベル
金属コロイド、金属酸化物、顔料などの日常的なサンプル調査用です

・レッドラベル
タンパク質、界面活性剤水溶液、固体含有量の低いサンプルなど、取り扱いが難しいサンプルタイプ用です。 （詳細を見る）

スペクトリス(株)マルバーン・パナリティカル事業部は、卓上型粉末X線回折装置Aerisで、この度大きく機能を追加したリニューアルモデルを発売しました。

薄膜XRD（GIXRD）測定の機能拡張により、薄膜やコーティング材料の結晶性や残留応力の測定が可能になったほか、透過率測定機能の拡張により、サンプル前処理時の配向の影響を低減し、製剤試料のような試料でも、より正確なデータが得られるようになりました。

今回のリニューアルで、以前は床置き型の大型装置でのみ対応していた機能が搭載できるようになりました。

新しいAerisは、多結晶材料から高品質のデータをスループットよく提供することが出来る卓上型の多目的X線回折装置であり、すべての環境で使用できるように設計されています。

また従来のAerisでも定評のあったユーザフレンドリな操作性、X線暴露の心配のない安心設計、詳細な解析が可能な大型の床置き装置と同じ解析ソフトウエアは今回のリニューアルでもしっかりと引き継がれています。

製品の詳細説明、測定事例のご紹介、お見積りのご要望などは是非お問合せください！ （詳細を見る）

「マスターサイザー3000」は、ナノテクノロジーから品質管理までの様々な粉体を扱う用途に幅広く対応した、レーザ回折式粒度分布装置です。
測定範囲は0.01μm～3500μmという幅広い測定レンジを実現しました。

【サンプルに合わせて５種類の湿式分散ユニットを選べます】
サンプルが少なかったり、粗大なサンプルなどにも対応できます。
どういったものを測定したいのかご相談いただければ、デモなども実施可能です。

グラフ付きの測定事例をパンフレットに掲載していますので
ぜひダウンロードしてみてくださいね！

原理の説明を知りたい方はこちらのページをご覧ください。（コピペしてご利用ください。）
https://www.malvernpanalytical.com/jp/products/technology/light-scattering/laser-diffraction （詳細を見る）

『モフォロギ4』では、粒子を撮像して解析・数値化することで、
粒子径分布情報に加えて形状情報が加わり
凝集粒子、針状粒子、桿状粒子を数値として管理できます。

本製品は新たに開発された粒子輪郭検知アルゴリズム「シャープエッジ機能」を搭載し、
これまで検出が難しかった低コントラスト粒子も正確に解析できるようになりました。

【特長】
■粒子輪郭検知アルゴリズム「シャープエッジ機能」を搭載
■サンプル分散から測定まですべて自動
■測定時間は従来機に比べ最大25％短縮

※毎月、個別相談会を実施しています。製品をお持ちの方はもちろん、製品購入予定の方の対象となっておりますので、お気軽にご連絡ください。オンラインでの対応も可能です。

詳細ページ：https://www.malvernpanalytical.com/jp/about-us/press-releases/news/PRJP21annualpersonaltraining.html （詳細を見る）

材料の分析を行うには様々な手法があります。
その中でよく利用されている、X線回折法やレーザー回折・散乱法、動的光散乱法の原理や分析方法についてまとめた資料を
ご用意いたしました。材料分析を行う方必見！

ダウンロードいただける資料
●XRD分析入門　動作原理の解説
●粒子径測定の基礎とレーザー回折・散乱法
●粒子径・ゼータ電位・分子量測定の基礎（DLS）
 （詳細を見る）