株式会社日本技術センター

パワーデバイステスター（半導体テスター）『N54シリーズ』

2000V耐圧仕様！低インピーダンスのパワーデバイステスター（半導体テスター）

『N54シリーズ』は、2000V耐圧仕様のパワーデバイステスターです。 FPGAの搭載により、テスター内部をフルロジックで同期させ、 高速測定を実現しています。 また、ハンドラー等装置へ…

パワーデバイステスター（半導体テスター）『N50シリーズ』

コンパクト＆高速計測！200V耐圧仕様のパワーデバイステスター（半導体テスター）

『N50シリーズ』は、200V耐圧仕様で、デスクトップサイズのパワー デバイステスターです。 ハンドラー内に収納ができ、デバイス直近に設置可能。静特性、熱抵抗、 L負荷測定（アバランシェ）を…

【SiC・GaN対応】パワーデバイステスター（半導体テスター）

SiC、GaNなど新素材に対応すべく、高耐圧、高速スイッチング用途の計測、治具開発を行います。

パワーデバイステスター『N50シリーズ』『N54シリーズ』は、 ディスクリート半導体や小規模なロジックデバイスに特化した製品です。 ニーズに応じてSiC、GaNデバイスにも対応できる計測や治具…

『光沢面・ミラー外観自動検査システム』

既存ラインにも設置可能なシステムです

『光沢面・ミラー外観自動検査システム』は、 超指向性外観検査照明S-Lightの採用により、光沢面やミラーの歪み欠陥の 自動検査が可能です。 反射投影⼿法により設置が容易にできます。 既存…

『モジュール落下試験機』

任意の姿勢で自由落下！

『モジュール落下試験機』は、モバイル機器などの衝撃落下試験において、 衝突点を自由に設定できる試験機です。 衝突直前にクランプを開放するため任意の姿勢で衝突させることができます。 開放時の高…

『自動充填・シール装置』

パッケージへの液体充填の自動化に！

『自動充填・シール装置』は、樹脂容器への試薬等の高精度充填、 熱融着アルミシールの貼付けの連続処理を行なう装置です。 試薬を高精度に充填でき、レシピ変更により任意のポケットに充填できます。 …

『マルチ光学特性評価装置』

パネルの自動入れ替え・連続計測に！

『マルチ光学特性評価装置』は、あらかじめ複数枚（最大10枚）のパネルを 装着することにより、無人で連続測定・評価を行う事が出来る装置です。 パネルの脱着・パネルの測定面の移動・視野角変更等を …

超指向性　外観検査用照明『S-Light』　★無料貸出中★

「透明体・反射面検査のデファクトスタンダード照明」

S-Lightは、フィルム（偏光/PET等）やガラスなど透明体の欠陥検査、鏡面・精密塗装面の表面検査（ヒケ，ウェルドライン，白ボケ，オーロラマーク）など、従来の照明では確認できなかった欠陥が簡単に発見…