掲載開始日：2023-05-19 00:00:00.0

技術情報誌The TRC News「多周波/高温ESR装置によるラジカル及び金属イオンの評価―フッ素系樹脂、ダイヤモンド粉末、シリカガラス、発光体粉末への適用―」

多周波/高温ESR装置によるラジカル及び金属イオンの評価―フッ素系樹脂、ダイヤモンド粉末、シリカガラ

多周波/高温ESR装置によるラジカル及び金属イオンの評価―フッ素系樹脂、ダイヤモンド粉末、シリカガラ

【要旨】
最も一般的なXバンド（9.5 GHz）のマイクロ波を用いたESR測定に比べ、高周波数のマイクロ波を用いたESR測定は、ESRスペクトルの分解能向上やスペクトル解析に有効である。本稿では、新規導入したXバンド及びQバンド（34 GHz）ESR装置を用いたフッ素系樹脂、ダイヤモンド粉末、シリカガラス、発光体粉末の分析事例を紹介する。
【目次】（全４ページ）
１．はじめに
２．新規ESR装置の特徴
３．フッ素系樹脂の高温ESR測定事例
４．QバンドESR測定事例
５．まとめ
【図表】
図１　ESR装置の周波数と分解能の関係
図２　ETFEのESRスペクトル（空気中加熱）
図３　O-リングのESRスペクトル（空気中加熱）
図４　ETFEからの発生ガスのFT-IRスペクトル（空気中加熱）
図５　ダイヤモンド粉末のESRスペクトル
図６　γ線照射したホウ素含有シリカガラスのESRスペクトル
図７　Eu2+発光体粉末のESRスペクトル

取扱会社

株式会社東レリサーチセンター

■受託分析・分析対象：半導体・実装、ディスプレイ・プリンター、電池・エネルギー、自動車、工業材料、環境、ライフイノベーション、医薬、バイオ ■受託調査・調査対象：化学・材料、環境・エネルギー・ライフサイエンス、その他 ■教育事業・分析基礎講座：分光分析、顕微鏡、物性分析、医薬分析、クロマトグラフィー、有機分析、発生ガス、電池、実習付き講座等 ■製品販売・ピンポイント濃縮プレート

公式サイト

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