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最終更新日:2014-03-06 15:24:50.0

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掲載開始日:2014-03-06 00:00:00.0

MST新サービスのご紹介(STEM⁄TEM・SEM・AES・SMM)

2013年12月から2014年2月にMSTが新たに始めました分析サービスをご紹介します。
MSTでは幅広い分析手法を組み合わせ、新たなソリューションを提供してまいります。

●ダブルCsコレクタ付透過型電子顕微鏡(TEM⁄STEM)【2014年2月開始】
~原子分解能レベルでの構造観察・元素分析サービス~
●極低加速走査型電子顕微鏡(SEM)【2014年2月開始】
~ナノオーダー表面形状の高精細観察サービス~

● 最新型オージェ電子分光装置(AES)【2014年2月開始】
~高空間分解能最表面の元素分析サービス~

●走査マイクロ波顕微鏡(SMM)【2013年12月開始】
~半導体デバイス中のキャリア濃度分布評価サービス~

詳しい情報は下記URLをご覧ください
http://www.mst.or.jp/special/tech/tech036.html

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MSTの分析サービス新メニューをご紹介します

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受託分析サービスで、研究開発を行う皆様をサポートします! 半導体・金属・電池などのエレクトロニクス材料や、医薬品・化粧品・食品・環境などのライフサイエンス分野に幅広く対応。 SIMS・TEM・XRD・ICP-MS・GC/MS・AES・SEM・EPMA・EELSなど、さまざまな分析装置を保有し、分析ニーズに応えます。 まずはご相談下さい。 ◆事業領域◆ 1. 科学技術分野における材料に関する基礎的研究及び解析・評価。 2. 半導体、生理学生化学、バイオ関連分野及び各種先端的分野についての基礎的研究及び解析・評価。 3. 1、2号に掲げる国内外における関連分野の研究機関又は個人に対する表彰及び支援。 4. 1、2号に掲げる研究成果等の出版または出版の支援。 5. 1、2号に掲げる国内外における関連分野の調査。 6. 1、2号に掲げる国内外における関連分野に関する研修の実施及び支援または研修所の運営。 7. その他目的を達成するために必要な事業。

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