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最終更新日:2016-03-10 13:12:34.0

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掲載開始日:2016-03-10 00:00:00.0

「TOF-SIMSデータ解析法 MSDMのご紹介 」を公開

MSTホームページにて、「TOF-SIMSデータ解析法 MSDMのご紹介 」を公開しました。
TOF-SIMSは試料表面の構造解析を行う手法です。他の分析装置に比べ表面に敏感であることから、最表面の有機汚染の同定などに適した手法です。
また、スパッタイオン源を用いて深さ方向に無機・有機物の分布分析が可能です。
深さ方向分析で得られる情報は非常に膨大ですが、深さ・質量・スペクトル強度の情報を可視化することにより精度の高い解析を可能とした「MSDM」をご紹介します。

詳細はMSTホームページをご覧ください。
http://www.mst.or.jp/

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TOF-SIMSは試料表面の構造解析を行う手法です。他の分析装置に比べ表面に敏感であることから、最表面の有機汚染の同定などに適した手法です。
また、スパッタイオン源を用いて深さ方向に無機・有機物の分布分析が可能です。
深さ方向分析で得られる情報は非常に膨大ですが、深さ・質量・スペクトル強度の情報を可視化することにより精度の高い解析を可能とした「MSDM」をご紹介します。

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受託分析サービスで、研究開発を行う皆様をサポートします! 半導体・金属・電池などのエレクトロニクス材料や、医薬品・化粧品・食品・環境などのライフサイエンス分野に幅広く対応。 SIMS・TEM・XRD・ICP-MS・GC/MS・AES・SEM・EPMA・EELSなど、さまざまな分析装置を保有し、分析ニーズに応えます。 まずはご相談下さい。 ◆事業領域◆ 1. 科学技術分野における材料に関する基礎的研究及び解析・評価。 2. 半導体、生理学生化学、バイオ関連分野及び各種先端的分野についての基礎的研究及び解析・評価。 3. 1、2号に掲げる国内外における関連分野の研究機関又は個人に対する表彰及び支援。 4. 1、2号に掲げる研究成果等の出版または出版の支援。 5. 1、2号に掲げる国内外における関連分野の調査。 6. 1、2号に掲げる国内外における関連分野に関する研修の実施及び支援または研修所の運営。 7. その他目的を達成するために必要な事業。

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