OPIE17出展・セミナー開催【蛍光顕微鏡用校正スライド、MEMS近赤外分光センサ,ハイパースペクトルカメラ 他】

最終更新日:2017-03-10 17:14:03.0

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  • 開催地:神奈川県

新製品 近赤外分光センサー

  • 新製品 近赤外分光センサー

蛍光顕微鏡用 品質管理システム,校正スライド

  • 蛍光顕微鏡用 品質管理システム,校正スライド

開催期間:2017年4月19日(水)~21(金)
開催場所:パシフィコ横浜
弊社ブース:I20

<出展製品>
蛍光顕微鏡用 校正スライド
https://www.klv.co.jp/product/argo-sim.html

超小型赤外分光センサ【新製品】
https://www.klv.co.jp/product/nr_w.html

ハイパースペクトルカメラ
https://www.klv.co.jp/product/pika.html

スマートフォン連動 ポータブル分光放射照度計
https://www.klv.co.jp/product/lighting_passport_pro.html

UV硬化に最適!ハイパワーLED UV照射器
https://www.klv.co.jp/product/superlite_suv-dc.html



新製品のデモンストレーションも実施予定です。
また、注目の出展製品のセミナーも行います。
ご来場をお待ちしております。

開催日時 2017年04月19日(水) ~ 2017年04月21日(金)
10:00 ~ 17:00
会場 パシフィコ横浜
参加費 無料
Webサイトの事前登録で入場無料

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取扱会社

ケイエルブイ株式会社

ハイパースペクトルカメラ、マルチスペクトルカメラ、分光器、 (UV~IR)各種光源、波長可変光源、紫外線照射装置、レーザー、 液体ライトガイド、フィルタ、センサ等の光学製品の販売

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