【2019年6月14日】フルーク・ ガードバンド・セミナーを開催します。

最終更新日:2019-04-18 17:06:01.0

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株式会社テクトロニクス&フルーク

  • 開催地:東京都

フルークの標準室の責任者であったDavid Deaver氏は、ガードバンドに関する論文を数多く書かれました。本セミナーでは、それらの論文の中でも代表的な2つを参考としながら、ガードバンドの基本的な考え方を説明します。またDeaver氏の論文以外にも、ガードバンドについて重要な資料であるBIPM のJCGM 106.2012 と、2007年のNCSLIでのMichael Dobbert氏の論文(= Understanding Measurement Risk)にも触れながら、ガードバンドの概略を紹介するセミナーとなります。

<こんな方に受講をおすすめ>
•ガードバンドの考え方に関心がある
•ガードバンドについて理解したい
•計測器の校正管理の知識を広げたい
•フルークのDavid Deaver氏の論文に関心がある

定員:30名

※受付は先着順、定員になり次第受付終了となります。お早目のお申込みをお願いいたします。
※録音・録画機材のお持ち込みはご遠慮ください。
※ご参加いただいた方には、セミナー終了後にCertificate(ご参加の証明)を提供します。

開催日時 2019年06月14日(金)
13:30 ~ 16:00
13:00開場
会場 東京会場:
株式会社TFF フルーク社 本社 セミナールーム
•東京都港区港南2-15-2 品川インターシティB棟 6階
•JR品川駅下車 港南口より品川インターシティスカイウェイ(歩行者専用通路) にて徒歩7分
参加費 無料

取扱会社

株式会社テクトロニクス&フルーク

電子計測器、ネットワーク管理ツールならびに部品、関連ソフトウェアの輸入、販売およびサービス/サポート等の提供。 主な取扱い製品 ■電気試験 ベーシック・テスター、バッテリー・アナライザー、クランプ・メーター、デジタル・マルチメーター、設置テスター、絶縁ツール、絶縁テスター、ポータブル・オシロスコープ、太陽光産業ツール ■ネットワーク・ケーブル・テスター 銅線テスター、産業用イーサネット・テスター、接触式温度計、赤外線放射温度計 ■工業用画像処理 産業用超音波カメラ、工業用ビデオスコープ ■熱画像診断 赤外線ウィンドウ、サーモグラフィー ■校正ツール mA ループ校正器、多機能校正器、圧力校正器、温度校正器

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