株式会社テクトロニクス&フルーク
- 開催地:東京都
フルークの標準室の責任者であったDavid Deaver氏は、ガードバンドに関する論文を数多く書かれました。本セミナーでは、それらの論文の中でも代表的な2つを参考としながら、ガードバンドの基本的な考え方を説明します。またDeaver氏の論文以外にも、ガードバンドについて重要な資料であるBIPM のJCGM 106.2012 と、2007年のNCSLIでのMichael Dobbert氏の論文(= Understanding Measurement Risk)にも触れながら、ガードバンドの概略を紹介するセミナーとなります。
<こんな方に受講をおすすめ>
•ガードバンドの考え方に関心がある
•ガードバンドについて理解したい
•計測器の校正管理の知識を広げたい
•フルークのDavid Deaver氏の論文に関心がある
定員:30名
※受付は先着順、定員になり次第受付終了となります。お早目のお申込みをお願いいたします。
※録音・録画機材のお持ち込みはご遠慮ください。
※ご参加いただいた方には、セミナー終了後にCertificate(ご参加の証明)を提供します。
開催日時 |
2019年06月14日(金) 13:30 ~ 16:00 13:00開場 |
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会場 | 東京会場: 株式会社TFF フルーク社 本社 セミナールーム •東京都港区港南2-15-2 品川インターシティB棟 6階 •JR品川駅下車 港南口より品川インターシティスカイウェイ(歩行者専用通路) にて徒歩7分 |
参加費 |
無料 |
取扱会社
電子計測器、ネットワーク管理ツールならびに部品、関連ソフトウェアの輸入、販売およびサービス/サポート等の提供。 主な取扱い製品 ■電気試験 ベーシック・テスター、バッテリー・アナライザー、クランプ・メーター、デジタル・マルチメーター、設置テスター、絶縁ツール、絶縁テスター、ポータブル・オシロスコープ、太陽光産業ツール ■ネットワーク・ケーブル・テスター 銅線テスター、産業用イーサネット・テスター、接触式温度計、赤外線放射温度計 ■工業用画像処理 産業用超音波カメラ、工業用ビデオスコープ ■熱画像診断 赤外線ウィンドウ、サーモグラフィー ■校正ツール mA ループ校正器、多機能校正器、圧力校正器、温度校正器
【2019年6月14日】フルーク・ ガードバンド・セミナーを開催します。へのお問い合わせ
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