日本セミラボ株式会社
『テーマ:分光エリプソメータ 解析モデル作成手順の説明 初級編』
■開催日時
1回目:4/22(木) 10:00~
2回目:5/13(木) 16:00~
■内容
一般的な構造のサンプルを例にして、解析モデルの作成手順をご説明します。
初級編としまして、有効媒質近似モデル、Cauchyモデル、Tauc-Lorentzモデルを使用した解析の説明を予定。
※参加ご希望の方は、日本セミラボ(株)ホームページ(https://www.semilab-j.jp/seminar/)よりお問い合わせください。
開催日時 |
2021年04月22日(木) ~ 2021年05月13日(木) |
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参加費 |
無料 |
取扱会社
■半導体測定装置の輸入販売及び技術サービスの提供 ■下記製品の取り扱いをしています。 分光エリプソメーター 非接触シート抵抗測定装置 DLTS測定システム ナノインデンター AFM(原子間力顕微鏡) キャリア移動度測定装置 非接触CV測定装置 ライフタイム測定装置 フォトルミネッセンス 装置仕様や価格情報などお気軽にお問い合わせください。
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