一般財団法人材料科学技術振興財団 MST 【有機EL解析に最適】TOF-SIMS新分析サービス開始
- 最終更新日：2024-05-28 13:47:29.0
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有機ELディスプレイは近年、画質の高精細化のために配列が祖が微細化されていく傾向が見られています。
MSTでは、有機ELの開発において必須となる有機EL層の膜構造を精度よく評価可能な新サービスを開始しました。
基本情報【有機EL解析に最適】TOF-SIMS新分析サービス開始
有機ELの小さな画素など狭い領域を狙って測定を行う場合、従来のTOF-SIMS測定では深さ方向の評価が困難でした。
MSTでは測定条件を改良することで、有機成分を壊さず狭い領域の分析が可能となりました。
| 価格帯 | お問い合わせください |
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| 納期 |
お問い合わせください
※分析条件によって納期が変動しますので、お気軽にお問い合わせください。 |
| 用途／実績例 | 有機EL膜構造評価 |
詳細情報【有機EL解析に最適】TOF-SIMS新分析サービス開始
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カタログ【有機EL解析に最適】TOF-SIMS新分析サービス開始
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