インサイト株式会社 【半導体分野向け】超音波探傷装置『IS-350』

半導体製品内部を評価! 検査の「最適化」、お客様の「検査ノウハウ構築」に力をいれています。 5G製品対応!

超音波デジタル画像診断装置「InsightScan IS-350」は、超音波を使って非破壊・非接触で製品内部を評価する装置です。

電子部品や金属、溶接部の内部欠陥を非破壊で検出することができます。

【インサイトが選ばれる理由】
■検査の「最適化」…お客様の検査対象製品に合わせた装置を作成します。スキャンサイズ、水槽深さ、探触子の選定など各種対応します。

■カスタマーサポート…超音波探傷は一つの技術です。当社では納品後も御社の技術者育成のお手伝いをします。導入後トレーニング、新規サンプルテスト、新規探触子の選定、無償で対応します。ご担当者の引き続きの際もお手伝いします。

基本情報【半導体分野向け】超音波探傷装置『IS-350』

【概要】
IS-350は水浸式の超音波探傷装置です。
検査対象を壊すことなく、内部検査を行うことができます。電子部品から金属材料に至るまで幅広いアプリケーションに対してご使用頂けます。
【対象アプリケーション】
 ◆電子部品、半導体パッケージ内部欠陥検出と評価
 ◆接合構造のボンディングのボイド検出と評価
 ◆金属材料の評価
【特徴】
 ◆拡張性
IS-350はお客様のご要望に応じてハード、ソフトともにカスタマイズを加えることが可能です。
アプリケーションに応じて適切な装置の製造が可能です。
【機器構成】
◆有効スキャンエリア
<基本構成>
350×350(mm)
<オプション>
中型   450×450(mm)
大型   600×600(mm)
その他、ご要望に応じた拡張が可能
<対応周波数>
250Khz~500Mhz
◆機械操作精度
0.5μm
◆本体サイズ
700W×750D×1300H(mm)(標準)

価格情報 お問い合わせください。
納期 お問い合わせください
用途/実績例 ◆電子部品、半導体パッケージ内部欠陥検出と評価
貼り合わせウェハーの剥離
CSP, フリップチップのアンダーフィル内のボイド、剥離
プラスチックパッケージ評価
セラミックコンデンサの層間剥離
パワー半導体評価
CFRP,GFRPなどのコンポジット材料
その他、電子部品内部の欠陥検査、信頼性評価

◆接合構造のボンディングのボイド検出と評価
静電チャックボンディングのボイド
ターゲット材のボンディングのボイド
異種材料接合部のボイド
接着材料評価

◆金属材料の評価
非金属介在物の検出
クラック、ボイドの検出
溶接部評価
非線形超音波法

カタログ【半導体分野向け】超音波探傷装置『IS-350』

取扱企業【半導体分野向け】超音波探傷装置『IS-350』

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・コンピュータを用いた計測機器・制御機器それらの周辺機器  並びにこれらのシステム、部品類の製造販売、賃貸及び輸出入業務 ・各種非破壊検査用機器の製造、販売、賃貸及び、輸出入業務 ・前各号に関連または付帯する一切の業務

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