ケイエルブイ株式会社 【非破壊検査向け】UV光源装置『SUPERLITE I04』
- 最終更新日：2023-10-31 19:44:11.0
- 印刷用ページ
蛍光探傷、磁粉探傷に適したUV光源装置
コンパクトかつ高出力。FPI（蛍光浸透探傷検査）に最適です。
≪特長≫
・コンパクト設計
・白色光を含まない純粋な紫外線の照射
・シンプルな切り替え方式（白色光／紫外線、ON/OFF)
内蔵したフィルターは、白色光を含まない純粋な紫外線を照射するため、非常に小さい内包物や傷も明確に見ることができます。
白色光のぎらつきによる不快感をなくすために、
自動アンチグレア機能が組み込まれています。
基本情報【非破壊検査向け】UV光源装置『SUPERLITE I04』
・コンパクト設計
・白色光を含まない純粋な紫外線の照射
・シンプルな切り替え方式（白色光／紫外線、ON/OFF)
・従来のランプに比べ寿命が２倍
・手動切り替え用にライトガイドにボタンを設置することも可能（オプション）
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | ・非破壊検査（発電設備、ジェットエンジンの検査） ・蛍光浸透探傷検査（FPI） ・UV硬化樹脂、接着剤 |
カタログ【非破壊検査向け】UV光源装置『SUPERLITE I04』
取扱企業【非破壊検査向け】UV光源装置『SUPERLITE I04』
-
-
ハイパースペクトルカメラ、マルチスペクトルカメラ、分光器、 （UV～IR）各種光源、波長可変光源、紫外線照射装置、レーザー、 液体ライトガイド、フィルタ、センサ等の光学製品の販売
【非破壊検査向け】UV光源装置『SUPERLITE I04』 へのお問い合わせ
お問い合わせ内容をご記入ください。
