低エネルギー逆光電子分光装置『LEIPS』エイエルエステクノロジー

有機半導体の損傷なし＆高分解能！研究に耐える精度でLUMO準位測定ができる！

低エネルギー逆光電子分光装置『LEIPS』は、
有機半導体を損傷させることなく高精度なLUMO準位測定ができる低エネルギー逆光電子分光装置。

照射するエネルギーを分子の共有結合より低くすることで、試料の損傷を回避。
また光検出に高性能フィルターを採用し、分解能0.5eV以下を達成しました。

従来機「IPES」をベースに、これまで抱えていた課題を解決しています。

【特長】
■高感度
■高分解能0.5eV以下
■有機半導体の開発や性能UPに貢献

※詳しくはカタログダウンロード、もしくはお問い合わせください。

関連リンク - https://als-technology.com/index.html

基本情報低エネルギー逆光電子分光装置『LEIPS』

【仕様】
■機器
　エネルギー分解能：0.5eV以下
■電子銃
　加速エネルギー：3～10eV
　カソード材質：BaO
　Beam Focus：φ1～3mm
　試料電流値：～10μA
　バイアス入力：±50V
■光電子増倍管
　感度波長：160nm～650nm
　バンドパスフィルター：260nm,285nm
　窓材質：石英ガラス
■制御
　計測制御コントローラー
　表示操作端末：デスクトップパソコン
　OS：Windows7

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カタログ低エネルギー逆光電子分光装置『LEIPS』

取扱企業低エネルギー逆光電子分光装置『LEIPS』

株式会社エイエルエステクノロジー

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