【分析事例】白色粉体の複合分析一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

FT-IR分析とXRF分析による粉体の同定

異物等の未知試料を分析・同定する場合、複数手法での測定結果から複合的にデータを解析することが有効です。
振動分光であるFT-IR分析と、大気中での元素分析手法であるXRF分析とを組み合わせて評価し、2種類の白色粉体の同定を行った事例をご紹介します。

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用途／実績例	ディスプレイ・LSI・メモリ・製造装置・部品の分析です

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