【分析事例】微小部XRD分析による結晶構造評価一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

微小領域のXRD測定が可能

照射X線をΦ400μmに絞ってXRD測定を行うことで、面全体ではなく所定の領域を狙って結晶情報を取得した事例をご紹介します。
プリント基板サンプルのXRD測定の結果、測定箇所（１）～（3）全てでCuとBaSO4が検出され、電極である測定箇所（１）ではAu由来のピークが検出されました。XRFによる測定結果とよく一致しています。
このように組成や結晶性の異なる数百μmの領域を狙って結晶構造を同定することが可能です。
測定法：XRD・XRF
製品分野：LSI・メモリ・電子部品
分析目的：組成評価・同定・構造評価

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基本情報【分析事例】微小部XRD分析による結晶構造評価

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用途／実績例	LSI・メモリ・電子部品の分析です

カタログ【分析事例】微小部XRD分析による結晶構造評価

【分析事例】微小部XRD分析による結晶構造評価_C0246

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取扱企業【分析事例】微小部XRD分析による結晶構造評価

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