【分析事例】MSDMによる有機ELデバイスの劣化解析一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

質量スペクトルを可視化することで、より高精度な解析が可能です

有機EL(OLED)は高精細ディスプレイ向けパネルや照明用など多様な用途に用いられており、層構造解析や劣化解析のニーズが高まってきていますが、様々な有機材料を組み合わせて形成されているため、元素分析だけでは一部の現象しか捉えることができません。
本資料では、TOF-SIMSによりOLEDの深さ方向分析データを取得し、MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)により試料の劣化について知見を得た事例をご紹介します。

基本情報【分析事例】MSDMによる有機ELデバイスの劣化解析

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用途／実績例	照明・ディスプレイの分析です

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【分析事例】MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)による有機ELデバイスの劣化解析

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