広範囲レンジ対応の非接触（渦電流法）シート抵抗/抵抗率 多点測定器
『NC-80MAP』は、複数タイプの非接触プローブによる広範囲レンジ対応の
抵抗測定器です。
搭載するプローブ数およびプローブタイプはご要望により、変更可能です。
エッジ8mmからの多点測定も可能です。
また、非接触の渦電流方式のため、ダメージを与えずに測定できます。
お客様の要望に応じ、様々にカスタマイズ可能です。
【特長】
■非接触式
■セミオートタイプ
■多点測定システム
※詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードして下さい。
基本情報非接触式 抵抗測定器『NC-80MAP』
【測定仕様】
■測定対象
・半導体・太陽電池材料関連（シリコン、ポリシリコン、SiCなど）
・新素材・機能性材料関連（カーボンナノチューブ、DLC、グラフェン、
銀ナノワイヤーなど）
・導電性薄膜関連（メタル、ITOなど）
・シリコン系エピタキシャル、イオン注入サンプル
・化合物半導体関連（GaAs Epi, GaN Epi, InP, Gaなど）
・その他（※お問い合わせください）
■測定サイズ：2～8インチ（オプション：12インチ）
■測定範囲
・抵抗率：1m～200Ω・cm（全プローブタイプの合計範囲/厚さ500μmの
場合）
・シート抵抗：10m～3kΩ/sq（全プローブタイプの合計範囲）
※詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードして下さい。
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | ※詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードして下さい。 |
カタログ非接触式 抵抗測定器『NC-80MAP』
取扱企業非接触式 抵抗測定器『NC-80MAP』
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