シナジーオプトシステムズ株式会社 光計測・検査装置『光ビームNFP計測装置』

光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く対応可能!

『光ビームNFP計測装置』は、発光素子・光ファイバ・光導波路・各種光
モジュールの光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く
対応可能な汎用光ビームプロファイラシステムです。

光学系は当社の高機能NFP計測光学系(簡易型NFP計測光学系も使用可能)
を使用し、各種光検出器・光ビーム解析モジュールAP013との組み合わせ
により、さまざまな光デバイスのNFP計測・光ビーム形状観察や光ビーム
プロファイル計測・解析に使用することができます。

また光検出器の選択により、可視域から光通信の1550nm近赤外波長帯まで
さまざまなシステム構築が可能です。

【特長】
■高機能NFP計測光学系 M-Scope type Sを使用
■光検出器の選択により、可視域から近赤外域までの測定に対応可能
■光ビーム解析モジュールAP013との組み合わせにより、
さまざまな光デバイスの計測・解析が可能
■低価格でシステム構築も可能

※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。

基本情報光計測・検査装置『光ビームNFP計測装置』

【応用】
■半導体レーザや各種レーザデバイスのビームプロファイル計測 ・NFP計測
■各種光ファイバ出射端NFP計測・ビームプロファイル計測
■光導波路出射端のNFP計測・ビームプロファイル計測
■光配線導波路出射端のNFP計測・ビームプロファイル計測
■各種光モジュール・光学モジュールのNFP計測・ビームプロファイル計測
■GI型マルチモード光ファイバのエンサークルドフラックス計測
■その他、可視~近赤外域の汎用ビームプロファイル計測一般

※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。

価格帯 お問い合わせください
納期 お問い合わせください
用途/実績例 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。

カタログ光計測・検査装置『光ビームNFP計測装置』

取扱企業光計測・検査装置『光ビームNFP計測装置』

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シナジーオプトシステムズ株式会社

シナジーオプトシステムズ株式会社は、光学技術とセンサ技術を基礎とした製品設計・製品開発を中核とし、光源、精密機構、MEMS、ソフトウエア制御等の周辺技術を付加・融合することにより、さまざまな目的・用途の光学機器・センサ・計測システムの開発を行う会社です。また、独自の光学設計技術・センサ技術・システム設計技術により、お客様のご要求仕様に合致した特殊光学系・センサ・専用システムのご提案と設計・製造も行っています。

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