シナジーオプトシステムズ株式会社 光計測・検査装置『光ビームNFP計測装置』
- 最終更新日:2017-06-16 11:18:54.0
- 印刷用ページ
光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く対応可能!
『光ビームNFP計測装置』は、発光素子・光ファイバ・光導波路・各種光
モジュールの光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く
対応可能な汎用光ビームプロファイラシステムです。
光学系は当社の高機能NFP計測光学系(簡易型NFP計測光学系も使用可能)
を使用し、各種光検出器・光ビーム解析モジュールAP013との組み合わせ
により、さまざまな光デバイスのNFP計測・光ビーム形状観察や光ビーム
プロファイル計測・解析に使用することができます。
また光検出器の選択により、可視域から光通信の1550nm近赤外波長帯まで
さまざまなシステム構築が可能です。
【特長】
■高機能NFP計測光学系 M-Scope type Sを使用
■光検出器の選択により、可視域から近赤外域までの測定に対応可能
■光ビーム解析モジュールAP013との組み合わせにより、
さまざまな光デバイスの計測・解析が可能
■低価格でシステム構築も可能
※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報光計測・検査装置『光ビームNFP計測装置』
【応用】
■半導体レーザや各種レーザデバイスのビームプロファイル計測 ・NFP計測
■各種光ファイバ出射端NFP計測・ビームプロファイル計測
■光導波路出射端のNFP計測・ビームプロファイル計測
■光配線導波路出射端のNFP計測・ビームプロファイル計測
■各種光モジュール・光学モジュールのNFP計測・ビームプロファイル計測
■GI型マルチモード光ファイバのエンサークルドフラックス計測
■その他、可視~近赤外域の汎用ビームプロファイル計測一般
※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯 | お問い合わせください |
---|---|
納期 | お問い合わせください |
用途/実績例 | ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログ光計測・検査装置『光ビームNFP計測装置』
取扱企業光計測・検査装置『光ビームNFP計測装置』
光計測・検査装置『光ビームNFP計測装置』へのお問い合わせ
お問い合わせ内容をご記入ください。