シナジーオプトシステムズ株式会社　総合カタログ

『光ビームNFP計測装置』は、発光素子・光ファイバ・光導波路・各種光
モジュールの光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く
対応可能な汎用光ビームプロファイラシステムです。

光学系は当社の高機能NFP計測光学系（簡易型NFP計測光学系も使用可能）
を使用し、各種光検出器・光ビーム解析モジュールAP013との組み合わせ
により、さまざまな光デバイスのNFP計測・光ビーム形状観察や光ビーム
プロファイル計測・解析に使用することができます。

また光検出器の選択により、可視域から光通信の1550nm近赤外波長帯まで
さまざまなシステム構築が可能です。

【特長】
■高機能NFP計測光学系　M-Scope type Sを使用
■光検出器の選択により、可視域から近赤外域までの測定に対応可能
■光ビーム解析モジュールAP013との組み合わせにより、
さまざまな光デバイスの計測・解析が可能
■低価格でシステム構築も可能

※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

『M-Scope type I』は、光照射計測・受光計測・光ビームプロファイル計測
等の多目的な光応用計測用に設計された高機能型光計測用光学系です。

光計測用光ファイバポートと画像処理・解析用画像検出器用ポートを搭載し、
複数の光計測を実現できるほか、目的に応じたさまざまな光学計測用
コンポーネントを増設可能で、計測目的や計測項目、計測タクト等、使用目的
にあわせた光学計測ユニットを容易に構築することが可能です。

測定対象や測定に使用する波長にあわせて最適なレンズや光学部品を選択・
装着することができ、これにより、最適な光学条件で各種測定を行うことが
可能です。

【特長】
■光計測用光ファイバ接続用ポートを搭載
■同軸画像観察ポートを搭載
■測定光のサンプルへの導入位置、受光位置を同軸観察カメラで直接観察可能
■光ビームプロファイル計測も可能
■ビームプロファイル計測等の光ビーム計測用途にも使用可能

※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

『ウエハレベル光素子特性測定装置』は、VCSELやLEDなどの発光素子、
フォトダイオードや照度センサなどの受光素子の電気・光学特性測定をウエハ
レベルで解析するシステムです。

当製品は、セミオートプローバやマニュアルプローバ等の半導体故障解析用
プローバシステムと、当社の各種光計測用光学系 M-Scopeシリーズ、測定光源、
測定器等を組合せて、光半導体素子の電気・光学諸特性をウエハレベルで解析・
データ収集を行うシステムです。

また、セミオートプローバとの組み合わせにより、ウエハの自動測定に対応することも可能です。

【特長】
■発光素子・受光素子のさまざまな電気・光学特性測定をウエハレベルで測定可能
■各種測定の自動化・高速化・省力化を実現
■当社製光計測用光学系M-Scopeシリーズ各種光学系を搭載可能
■光計測・解析ソフトウエアOptometrics Customized Versionを搭載
■個別素子の測定からインライン使用まで幅広く対応可能

※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

『シナジーオプトシステムズ株式会社　総合カタログ』は、主に光学機器や
精密機器の開発製造・販売を行うシナジーオプトシステムズ株式会社の
「光ビーム観察・計測光学系光ビーム測定システム」の総合カタログです。

光ビーム観察・計測光学系「M-Scope typeS/NFP計測システム」をはじめ、
その応用システムである「エンサークルドフラックス計測システム」など、
可視・光通信用近赤外レーザダイオードや各種光学モジュールのビーム観察・
評価・組立調整に最適な光学系・システムを掲載しています。

【掲載内容】
■光ビーム観察・計測用光学系ラインアップ
■システム・コンポーネントセレクションガイド

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

『M-Scope typeS／NFP計測システム』は、ビームスポット観察から
光デバイスの高度な光学特性解析まで対応可能な、高機能光ビーム観察・
計測光学系M-Scope typeSとその専用処理システムです。

最高200倍の光学倍率（対物レンズ100倍使用時）で、微小スポットの観察・
解析にも対応しています。

独自開発の高機能光ビーム解析ソフトウェアOptometricsにより、
光ビームパターン解析から光モジュールの実装組立まで幅広く応用が可能です。

【特長】
■手動レボルバ搭載
■複数の対物レンズの切り替えが可能
■光学倍率最高200倍（対物レンズ100倍使用時）
■微小スポットの観察・解析にも対応
■実像による位置合わせが可能

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

『M-Scope typeC／コリメート光調整システム』は、専用光学系と、
画像解析による、LDモジュール等コリメート光調整用光学システムです。

本光学系および処理装置を応用し、各種精密位置決めステージと組み合わせた
各種モジュール調整装置の提案をすることも可能です。

検出器の選択により、可視・近赤外まで対応が可能です。

【特長】
■検出器の選択が可能
■可視・近赤外まで対応可能

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

『エンサークルドフラックス計測システム』は、エンサークルドフラックス・
結合パワー計数等ファイバの性能評価において特に重要なモード分布の解析が
可能なシステムです。

光ファイバのNFP（ニアフィールドパターン）を解析することにより、
マルチモードファイバのモード伝播を迅速に評価・測定します。

また、オプションにより、当社製限定空励振光学系との組み合わせにより、
照射N.Aや照射ビーム径を変更することが可能です。

【特長】
■標準化パラメータ測定機能
■照射条件可変機能（オプション）
■近赤外域（1.3μm帯）における測定が可能（オプション）

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

シナジーオプトシステムズ株式会社の「VCSEL／LED用ウエハレベル
発光素子計測システム」は、VCSEL／LEDなどの発光デバイスをウエハ状態で
解析するシステムです。

各種測定器との組み合わせにより、発光素子のさまざまな電気・光学特性を
ウエハレベルで測定するシステムを構築することが可能です。

お客様の要望仕様により、プローバの選定、測定光学系・測定ソフトウエアの
カスタマイズ等の対応が可能です。

フォトダイオード等受光素子の電気・光学特性測定をウエハ状態で測定可能な、
ウエハレベル受光素子計測システムもあります。

【特長】
■各種プローバへの対応が可能
■各種測定器との組み合わせによる統合測定環境の提案が可能

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）

『M-Scope typeH』は、5Wクラスの高出力レーザ等の発光ビームプロファイル
計測用のNFP計測光学系です。

計測対象サンプルから出射された光束をビームサンプラーにて約5%程度を
反射させ、その反射光を対物レンズ・結像レンズにて2次元画像検出器に結像
する方式を採用しています。

これにより、高出力レーザの発光ビームプロファイル・ビーム形状を正確に
計測することができ、また、微動ステージと組合せて、光学系を焦点方向に
移動させることにより、ビーム形状の出射方向の変化を測定することも可能
です。

【特長】
■高出力レーザのパワーを測定可能な適正レベルまで減衰
■最大20倍の観察光学倍率
■同軸落射照明ポートを標準装備
■同軸落射照明装置（オプション）との組合せで顕微鏡画像観察・実像に
よる位置合わせが可能
■光ビーム解析モジュールAP013との併用により、高出力レーザNFP
計測システムの構築が可能

※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）