ローデ・シュワルツ・ジャパン株式会社 セグメントメモリとヒストリー機能によるエラーの高速解析
- 最終更新日：2019-12-12 10:26:44.0
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ヒストリー機能を用いた高分解能での長時間捕捉について紹介します。
新製品の開発時には、散発的なエラーによって貴重な時間が失われます。
オシロスコープのメモリでは、通常、エラーやエラーの履歴を解析するための
メモリ長が数ミリ秒に制限されます。
大容量のセグメントメモリと専用のトリガ条件により、長時間休止すること
なく、関連するシーケンスを捕捉できるので、この問題を解決できます。
【電子計測ソリューション】
■シングルショット
■アクティブな信号要素に収集を制限
■ヒストリーおよびセグメントメモリ
■設定が簡単で、結果を短時間で取得可能
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報セグメントメモリとヒストリー機能によるエラーの高速解析
【オシロスコープ / セグメントメモリ】
■R&S RTB2000 / 160 Mサンプル
■R&S RTM3000 / 400 Mサンプル
■R&S RTA4000 / 1000 Mサンプル
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カタログセグメントメモリとヒストリー機能によるエラーの高速解析
取扱企業セグメントメモリとヒストリー機能によるエラーの高速解析
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