セグメントメモリとヒストリー機能によるエラーの高速解析

ヒストリー機能を用いた高分解能での長時間捕捉について紹介します。

新製品の開発時には、散発的なエラーによって貴重な時間が失われます。
オシロスコープのメモリでは、通常、エラーやエラーの履歴を解析するための
メモリ長が数ミリ秒に制限されます。

大容量のセグメントメモリと専用のトリガ条件により、長時間休止すること
なく、関連するシーケンスを捕捉できるので、この問題を解決できます。

【電子計測ソリューション】
■シングルショット
■アクティブな信号要素に収集を制限
■ヒストリーおよびセグメントメモリ
■設定が簡単で、結果を短時間で取得可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。