デジタル・オシロスコープのデッドタイムが測定に与える影響ローデ・シュワルツ・ジャパン

デッドタイムが発生する原因と、高速波形更新レートの重要性について解説。

全てのデジタル・オシロスコープにはデッドタイムがあります。このため、
デッドタイム内に生じる製品からの不具合信号を捕捉できない場合があります。

このように、測定におけるデッドタイムを把握することは、デバッグに
おいては非常に重要です。

当アプリケーション・ノートでは、デッドタイムが発生する原因と、
高速波形更新レートの重要性について解説します。

併せて、R&SRTO オシロスコープの新機能によるデバッグ作業の
効率化についてもご紹介します。

【掲載内容(抜粋)】
■デッドタイムとは？
　・デジタル・オシロスコープのアーキテクチャ
　・デッドタイム- デジタル・オシロスコープの特性
■デッドタイムの影響とは?
　・見えない不具合波形
　・デッドタイムが測定に与える影響
　・稀な不具合信号に対するテスト時間　など

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関連リンク - https://www.rohde-schwarz.com/jp/home_48230.html

基本情報デジタル・オシロスコープのデッドタイムが測定に与える影響

【その他掲載内容】
■デッドタイムを減らす既存ソリューションのトレード・オフとは?
　・長いメモリでの"Single run"
　・特殊なトリガ・イベント
　・特殊な波形捕捉モード
　・特殊なモードを使用しない高速な波形更新
■R&S RTO オシロスコープの挑戦
　・RTO アーキテクチャ: デッドタイムを最小限にした設計
　・最高1 秒間に100 万回の波形更新レート
　・高速波形更新レートに伴う波形解析結果の高速化
■結論
■カタログ
■その他
■オーダ情報

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