導通不良を起こした接点表面を電子顕微鏡観察することで調査した事例をご紹介！
当社では、分析ソリューション事業を行っています。
本資料では、導通不良を起こした接点表面を非接触、
非破壊の状態で40～250倍の電子顕微鏡観察を行い、
接点表面の付着物の観察を行った事例を掲載しています。
付着物の蛍光X線分析による元素の定性、顕微赤外分光分析による
化合物の定性により接点付着物の特定を行うことで、特定した付着物から
接点への付着メカニズムが解明でき、導通不良原因を調査できます。
【掲載内容】
■概要
■特長
■分析事例
・電子顕微鏡観察
・蛍光X線分析、顕微赤外分光分析
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基本情報【技術資料】電極付着物(接点)
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カタログ【技術資料】電極付着物(接点)
取扱企業【技術資料】電極付着物(接点)
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【分析ソリューション事業】 ■環境 ■化学・工業製品・原料 ■腐食・劣化 ■保有分析・試験装置
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