FFP計測装置【※デモ測定対応可能】シナジーオプトシステムズ

専用光学系＋画像処理・解析方式による光ビームのFFPの観察・計測用システム

『FFP計測装置』は、半導体レーザや光ファイバ、光導波路、光モジュール
等のFFP(ファーフィールドパターン：遠視野像)を計測する装置です。

専用光学系＋画像処理方式により、様々な光デバイスのFFP計測・
放射角度分布計測・出射 N.A. 計測・解析に応用可能です。

光検出器の選択により、可視域から光通信の1550nm近赤外波長帯まで
様々なシステム構築が可能です。

【特長】
■FFP計測光学系M-Scope type Fを使用
■専用光学系＋画像処理解析方式で、測定も迅速で調整も容易
■ワーキングディスタンス約6mmの長作動距離設計
■光検出器の選択により、可視域から近赤外域までの測定に対応可能
■解析装置・光ビーム解析ソフトウエア・検出器ドライバ・補正データが
　セットになった光ビーム解析モジュールAP013を搭載

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

関連リンク - http://www.synos.jp/system/system_ffp.html

基本情報FFP計測装置【※デモ測定対応可能】

【その他の特長】
■オールインワンパッケージで導入後直ちに使用が可能
■光ビームプロファイル計測用に独自開発した画像処理・解析ソフトウエア
　Optimetrics BA Standard使用
■Optimetrics BA Standardは、EF/EAF計測機能にも対応

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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用途／実績例	【用途】 ■半導体レーザや光ファイバ、光導波路、光モジュール等のFFPの計測 ■各種光デバイス・光モジュールのFFP計測・解析 ■種光デバイス・光コンポネントのN.A.計測・解析 ■マルチモード光ファイバのエンサークルドアンギュラーフラックス解析　など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

取扱企業FFP計測装置【※デモ測定対応可能】

シナジーオプトシステムズ株式会社

シナジーオプトシステムズ株式会社は、光学技術とセンサ技術を基礎とした製品設計・製品開発を中核とし、光源、精密機構、MEMS、ソフトウエア制御等の周辺技術を付加・融合することにより、さまざまな目的・用途の光学機器・センサ・計測システムの開発を行う会社です。また、独自の光学設計技術・センサ技術・システム設計技術により、お客様のご要求仕様に合致した特殊光学系・センサ・専用システムのご提案と設計・製造も行っています。