シナジーオプトシステムズ株式会社 FFP計測装置【※デモ測定対応可能】
- 最終更新日:2019-07-05 09:57:28.0
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専用光学系+画像処理・解析方式による光ビームのFFPの観察・計測用システム
『FFP計測装置』は、半導体レーザや光ファイバ、光導波路、光モジュール
等のFFP(ファーフィールドパターン:遠視野像)を計測する装置です。
専用光学系+画像処理方式により、様々な光デバイスのFFP計測・
放射角度分布計測・出射 N.A. 計測・解析に応用可能です。
光検出器の選択により、可視域から光通信の1550nm近赤外波長帯まで
様々なシステム構築が可能です。
【特長】
■FFP計測光学系M-Scope type Fを使用
■専用光学系+画像処理解析方式で、測定も迅速で調整も容易
■ワーキングディスタンス約6mmの長作動距離設計
■光検出器の選択により、可視域から近赤外域までの測定に対応可能
■解析装置・光ビーム解析ソフトウエア・検出器ドライバ・補正データが
セットになった光ビーム解析モジュールAP013を搭載
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報FFP計測装置【※デモ測定対応可能】
【その他の特長】
■オールインワンパッケージで導入後直ちに使用が可能
■光ビームプロファイル計測用に独自開発した画像処理・解析ソフトウエア
Optimetrics BA Standard使用
■Optimetrics BA Standardは、EF/EAF計測機能にも対応
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯 | お問い合わせください |
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納期 | お問い合わせください |
用途/実績例 | 【用途】 ■半導体レーザや光ファイバ、光導波路、光モジュール等のFFPの計測 ■各種光デバイス・光モジュールのFFP計測・解析 ■種光デバイス・光コンポネントのN.A.計測・解析 ■マルチモード光ファイバのエンサークルドアンギュラーフラックス解析 など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
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