FFP計測装置【※デモ測定対応可能】

専用光学系＋画像処理・解析方式による光ビームのFFPの観察・計測用システム

『FFP計測装置』は、半導体レーザや光ファイバ、光導波路、光モジュール
等のFFP(ファーフィールドパターン：遠視野像)を計測する装置です。

専用光学系＋画像処理方式により、様々な光デバイスのFFP計測・
放射角度分布計測・出射 N.A. 計測・解析に応用可能です。

光検出器の選択により、可視域から光通信の1550nm近赤外波長帯まで
様々なシステム構築が可能です。

【特長】
■FFP計測光学系M-Scope type Fを使用
■専用光学系＋画像処理解析方式で、測定も迅速で調整も容易
■ワーキングディスタンス約6mmの長作動距離設計
■光検出器の選択により、可視域から近赤外域までの測定に対応可能
■解析装置・光ビーム解析ソフトウエア・検出器ドライバ・補正データが
　セットになった光ビーム解析モジュールAP013を搭載

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。