［SXES］軟X線発光分光法一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

SXESは、物質から発光される軟X線を用いて化学結合状態を評価する手法です。

・試料中の特定元素（特にB,C,N,O等の軽元素）に着目した化学結合状態の評価が可能
・スペクトル形状は価電子帯における着目元素の部分状態密度を反映
・X線吸収スペクトル（XAS）との同時測定によってバンド構造の評価も可能
・バルクの情報が得られるため、表面近傍数nmの影響を受けにくい
・絶縁物に対しても帯電の影響を受けずに評価が可能
・検出下限が低く（＜1atomic%）、微量成分であっても評価が可能

基本情報［SXES］軟X線発光分光法

発光を生じさせるための励起源としてエネルギー可変、高強度などの特長を持った放射光を用います。

価格情報	測定対象によって価格が変動しますので、お気軽にお問い合わせください。
納期	お問い合わせください
用途／実績例	・希薄磁性半導体Ga1-xCrxN中のギャップ内準位評価・HOPG（高配向性熱分解グラファイト）中の微量ホウ素の局所構造解析・酸化物半導体中の微量軽元素の化学結合状態評価・各種薄膜試料のバンド構造評価（XASとの複合解析）

詳細情報［SXES］軟X線発光分光法

: まずはご相談ください
★分析プランのご提案から行います★
御社へ伺ってのお打ち合わせも、もちろん可能。
分析結果のご説明も丁寧に行い、疑問を残しません。
まずは03-3749-2525またはinfo@mst.or.jpまでご連絡ください！

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カタログ［SXES］軟X線発光分光法

［SXES］軟X線発光分光法

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取扱企業［SXES］軟X線発光分光法

一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

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