株式会社イオンテクノセンター 半導体分析
- 最終更新日:2019-11-16 19:53:43.0
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各種半導体の様々な目的に合わせて、各種手法で分析が可能!
半導体の微細な形状の観察、結晶性評価、不純物濃度測定、硬度測定、故障解析など 各種手法により研究開発のサポートを致します。
基本情報半導体分析
半導体材料分析項目
原子レベルの構造観察、結晶構造、転位密度、膜厚
表面形状、断面構造(膜厚)
結晶性(面方位)、積層膜の周期構造
表面組成、結合状態、深さ方向分布
不純物濃度、深さ方向分析
結晶構造、応力歪
構成元素、組成
表面のヤング率、硬度
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用途/実績例 | 半導体分析は国内企業様、大学様に多くご利用頂いております。 |
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