【半導体製造装置関連】集積回路測高検査装置2型ライズワン

計測後NG品を自動排出！自動ローディングされたJEDECトレー内ICの高さを計測する装置

『集積回路測高検査装置2型』は、視野角10mm内、高さ0.7mm以内の高さ計測が可能な製品です。

スロットマガジンに格納されているリードフレーム(最大30×50)を1枚ずつ計測ステージにローディングし、高さ計測を実施。
検査結果によるNG排出を行い、空ポケットに良品ワークを自動充填します。

当社は、FA装置の開発・設計から組立調整、設置、納品後のメンテナンスや改善・改造提案まで一貫したサービスを展開しています！
掲載装置は製作実績です。
こちらをご参考に、類似した装置または新規製作に対応致しますので、お気軽にお問い合わせ下さい。

関連リンク - https://jp-riseone.co.jp/products/electronic-003/

基本情報【半導体製造装置関連】集積回路測高検査装置2型

【簡易スペック】
■3D変位計KEYENCE WI-010 2台搭載
■計測時間1枚0.35秒
■トレー入れ替え0.5秒以内
■JEDECトレー最大セット数40枚自動投入
■NGワーク自動排出後、OKワーク自動投入

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用途／実績例	スロットマガジンに格納されたリードフレームの高さを計測し、検査結果によるNG排出、良品ワークの自動充填をする装置

取扱企業【半導体製造装置関連】集積回路測高検査装置2型

株式会社ライズワン

■高精密度位置決め装置の設計・製作 ■高精密度位置決めを有するFA生産機及び検査機の設計・製作 ■各種ロボットを用いた自動・省力化機器の設計・製作 ■汎用機器を用いたFA自動機及び手動機の設計・製作 ■加工治具、組立治具、検査治具の設計製作 ■各種製造装置開発・設計・製作 ■ソフトウェア・電子回路設計・製作 ■LIN通信・CAN通信によるECU通信検査装置やコントローラの開発