ブルカージャパン株式会社 研究開発用マルチレンジスペクトロメータ『INVENIO X』
- 最終更新日：2024-10-28 10:17:16.0
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『INVENIO X』は、次世代のINVENIOプラットフォームを完成させ、
先端研究開発用FT-IRの新たなスタンダードを確立します。
「DigiTect」検出器ならびに「Transit」第2試料室を併用することで、
最大7台の検出器を同時に搭載し、それぞれをソフトウェアから自由に
制御することができます。
これにより、遠赤外から可視／紫外までの幅広い領域をカバーすることが
可能となります。
【特長】
■新設計INTEGRAL干渉計
■5台の検出器に対応する革新的MultiTectテクノロジー
■ユーザーによる交換が可能なDigiTect検出器スロット
■専用検出器搭載、簡易透過／反射測定用Transitチャンネル第2試料室
■24ビットダイナミックレンジ・デュアルチャンネル ADC、
フルデジタル信号処理
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報研究開発用マルチレンジスペクトロメータ『INVENIO X』
【その他特長】
■遠赤外、近赤外、可視 ／ 紫外領域への拡張、フィールドアップグレード対応
■INTEGRAL干渉計とMultiTectテクノロジーにより遠赤外から可視/紫外領域までのマルチスペクトル測定を完全自動化
■高度な測定と解析に対応するOPUSソフトウェア
■さらに快適な操作環境を実現するOPUS-TOUCH R&Dソフトウェア/タッチパネルPCオプション
■ソフトウェア制御式、光入出力ポート（出力X3、入力X2）
■各種変調測定と時間分解測定を実現するラピッド、スロー、ステップスキャンオプション
■VERTEX、INVENIO 用のすべてのアクセサリおよび拡張モジュールとの互換性を完全継承
■試料室バイパス／ダイレクトエミッション光路オプション
■簡単操作で脱着が可能な試料室カバー（カスタマイズ可能）
■乾燥密閉型光学ベンチ（パージ可能）
■LEDライトバーによる洗練されたシステムステータス表示
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| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
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カタログ研究開発用マルチレンジスペクトロメータ『INVENIO X』
取扱企業研究開発用マルチレンジスペクトロメータ『INVENIO X』
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物質工学、材料科学、環境科学、生命科学などの先端研究分野と、食品、農業、医薬品、化学、石油化学、電気電子等の産業界における製品開発、生産管理、品質管理を対象とした、赤外・近赤外・ラマンの各分光分析装置ならびに周辺機器と、それらに付随するアフターサービスを提供しています。
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