メトロームジャパン株式会社 【イオンクロマトグラフィー資料】水酸化アンモニウムの不純物測定

イオンクロマトグラフで中和とマトリックス除去を伴う濃縮工程を自動化して半導体製造で使用する高純度水酸化アンモニウムの不純物を測定

半導体産業では、超高純度試薬が必要とされます。イオン性不純物が含まれていると製品の品質を損なう可能性があります。
このアプリケーションでは、28%の半導体グレードの水酸化アンモニウム溶液中の陰イオン不純物の測定結果を示します。
マトリックスの影響を避けるために、インライン中和とマトリックス除去を伴う濃縮テクニックを用いて測定を行ないました。

基本情報【イオンクロマトグラフィー資料】水酸化アンモニウムの不純物測定

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● 電位差自動滴定装置 ● カールフィッシャー水分計 ● イオンクロマトグラフ ● 近赤外分光分析計 ● ラマン分光計 ● pH計 導電率計 ● イオン計 ● 酸化安定性試験装置 ● ボルタンメトリー(VA) ● CVS分析計 ● 電気化学測定装置(ポテンショスタット/ガルバノスタット) ● プロセス分析計(滴定、水分、NIR、ラマン、イオンクロマトグラフィ、吸光度、CVS、VA) 【装置は3年間保証】 【アクセサリ/消耗品は製造終了後10年間保証】 【ソフトウェアは装置製造終了後5年間サポート保証】 【アニオンサプレッサは10年間保証】

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