有限会社シスコム(SysCom) ナノ表面粗さ・形状計測器 ナノセブン
- 最終更新日:2024-05-01 11:28:46.0
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簡単操作、非接触、迅速、高分解能、低価格のナノ表面粗さ、段差形状測定装置。防振台不要でラインでの全数検査も可能。
光ヘテロダイン干渉計測を利用したコンパクトで、振動に強く、高さ分解能が0.1ナノと高精度な測定を提供する表面粗さ・形状測定システム。
計測時間も大幅に短縮でき、防振台不要でラインでの全数検査もできる。
広範囲の計測が可能で多点計測や大型試料にも適用可能。
<主な特長>
1)低価格で計測時間の大幅短縮
2)高分解能 高さ方向0.1ナノでAFMと互換性保持
3)試料対象物への前処理や真空不要の簡単計測で防振台も不要
4)広範囲計測可能
5)光ヘテロダイン干渉計測で外部からの振動を相殺 等
基本情報ナノ表面粗さ・形状計測器 ナノセブン
計測方式:光ヘテロダイン干渉計測
高さ分解能:0.1nm
基準高さ計測範囲:0.5~300nm
基準計測範囲:X軸45mm Y軸45mm
粗さ Ra:0.1~50nm、段差1~150nm
スクラッチ、形状等
本体寸法:W313xD614xH428mm、重量27Kg
価格帯 | 500万円 ~ 1000万円 |
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納期 |
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※2-3ケ月 |
型番・ブランド名 | ナノセブン TN-A1 |
用途/実績例 | エレクトロニクス、半導体、自動車、マイクロテクノロジー、フィルム 精密工学、医療分野、データストレージ、セラミック・・・・ |
取扱企業ナノ表面粗さ・形状計測器 ナノセブン
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