パーク・システムズ・ジャパン株式会社 原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX-3DM』

NXテクノロジーを導入した完全自動化産業用AFM

『Park NX-3DM』は、オーバーハングプロファイル、高解像度側壁
イメージング、および臨界角測定用に設計された完全自動AFMシステムの
原子間力顕微鏡(AFM)です。

傾斜Zスキャナを備えた特許取得済みの分離型XYおよびZスキャン
システムにより、正確な側壁分析における通常およびフレアチップ法の
課題を克服します。

【ウエハファブ用で必須なツール】
■高度で正確なPark NX技術を用いた完全自動産業用AFM
■アンダーカットやオーバーハング構造のためのチルトヘッドデザイン
■サンプル前処理不要で正確な側壁粗さ計測
■完全非接触モード(TM)により、装置とサンプルにダメージを与えずに
 高品質のイメージが得られる

※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

基本情報原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX-3DM』

【システム仕様】
■電動XYステージ
 ・200mm:駆動 275mmx200mm、分解能 0.5μm
 ・300mm:駆動 375mmx300mm、分解能 0.5μm
■電動Zステージ
 ・Z駆動距離:30mm
 ・分解能:0.08μm、再現性 < 1μm
■電動フォーカスステージ
 ・Z駆動距離:11mm、直上光学系

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価格帯 お問い合わせください
納期 お問い合わせください
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カタログ原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX-3DM』

取扱企業原子間力顕微鏡(AFM)『Park NX-3DM』

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パーク・システムズ・ジャパン株式会社

【取扱製品】 ■研究用  ・小型サンプル対応AFM  ・大型サンプル対応AFM ■生産ライン用  ・全自動AFM ■Bio and Chemical  ・Bio AFM&SICM

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