取りたい欠陥だけを取る！『画像検査システム』シリウスビジョン(旧ナビタスビジョン)

過検出を極限まで抑えた独自の画像検査技術をご紹介。

従来の画像検査機では、高精細な欠陥検出ができても、良品を不良品と間違えて判断する過検出が起こっていました。

当社が独自開発した画像検査アルゴリズムは、目視検査の過検出抑制と高精細自動検査を両立した画期的技術です。
この技術を利用し、幅広い分野へ自動検査ソリューションをご提供しております。

【対応分野】
検版、シールラベル、カード、容器、ブランクス　など

また、当社では7/13に『EVOLUTION　NEXT VISION　画像検査技術の進化』と題した
オンラインセミナーを開催いたしました。

高速・高精度検査と使いやすさを兼ね備えたグラビア印刷検査ソフトウェアの初公開。
さらに当社独自の検査アルゴリズムを搭載した上で、誰もが使い易いソフトウエアとした
検査ソフトウェア「AsmilVision」の新機能のご紹介とその他新製品・新機能の発表、ユーザーボイスの紹介も行いました。

※詳しくはPDFダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせください。

関連リンク - https://siriusvision.jp/

基本情報取りたい欠陥だけを取る！『画像検査システム』

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