日本コネクト工業株式会社 テストソケット『直押しソケット』

ソケットの蓋は2タイプをご用意!高速ICデバイスの評価に適したテストソケット

『直押しソケット』は、基板へ直接デバイスリードを押し当てるコンタクト方式を
採用し、高速伝送信号の測定を可能にしたテストソケットです。

一般的なICソケットは、基板とデバイスの間に端子を介しているため、接点が増えて
信号の劣化または減衰が発生しますが、当製品はハンダ付けに近い状態を作り信号の
劣化を抑えられるため、高速ICデバイスの評価に適しております。

ソケットの蓋は、ワンタッチで蓋の着脱が可能な「ラッチロックタイプ」と4か所を
ネジ固定すれば取り付けが完了する「ネジ止めタイプ」のご用意がございます。

【特長】
■コンタクト方式を採用
■高速伝送信号の測定が可能
■信号の劣化を抑えられる
■高速ICデバイスの評価に好適
■ソケットの蓋は2タイプをご用意

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

基本情報テストソケット『直押しソケット』

【仕様】
■ピッチ:0.4mm〜
■使用温度:-40℃~+150℃
■適合デバイスタイプ:QFP、SOP
■適合デバイスサイズ:□40mm max

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

価格帯 お問い合わせください
納期 お問い合わせください
用途/実績例 【用途】
■量産用基板に実装
■最終製品の実使用現場にて試験、検査(車、ロボット、医療、モバイル等の電子機器)
■ICの不良解析

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

カタログテストソケット『直押しソケット』

取扱企業テストソケット『直押しソケット』

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日本コネクト工業株式会社

電子部品の設計製造販売 電子部品、材料の輸出入 マイクロプロセッサー応用装置の設計、開発製造 (精密部品、特殊部品の加工など精密コネクタ、特殊コネクタ、高電流コネクタの開発。半導体関係検査のための部品開発)

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