テストソケット『直押しソケット』

『直押しソケット』は、基板へ直接デバイスリードを押し当てるコンタクト方式を
採用し、高速伝送信号の測定を可能にしたテストソケットです。

一般的なICソケットは、基板とデバイスの間に端子を介しているため、接点が増えて
信号の劣化または減衰が発生しますが、当製品はハンダ付けに近い状態を作り信号の
劣化を抑えられるため、高速ICデバイスの評価に適しております。

ソケットの蓋は、ワンタッチで蓋の着脱が可能な「ラッチロックタイプ」と4か所を
ネジ固定すれば取り付けが完了する「ネジ止めタイプ」のご用意がございます。

【特長】
■コンタクト方式を採用
■高速伝送信号の測定が可能
■信号の劣化を抑えられる
■高速ICデバイスの評価に好適
■ソケットの蓋は2タイプをご用意

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）