日本アッシュ株式会社 反射用レプリカ解析システム『ASA-03RXD』
- 最終更新日：2022-01-12 09:52:09.0
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スピーディで豊富な解析項目と、簡便な操作性を実現！高精度な測定が可能
『ASA-03RXD』は、高性能デジタル画像処理により、高精度な測定ができる
反射用レプリカ解析システムです。
採取したレプリカに平行光を角度30度で照射する事により、得られる
キメ・シワ等の形状に応じた陰影画像をCCDカメラで撮像。専用解析ソフトで
画像処理する事によりキメ・シワ等の形状、定量解析を行います。
シワでは得られた解析画像を基に深度に応じて色が変化するため、
合成画像による深度の変化が捉えやすくなりました。
【特長】
■専用の解析ソフトはキメ・シワ等の識別を自動認識で行い、個数、体積、
面積等を自動的に計算するとともに、識別された部位を着色表示できる
■高性能デジタル画像処理により、高精度な測定が可能
■採取したレプリカを専用マウントに固定する事により、レプリカ自体の変形、
位置ずれが少なく、キメ・シワ等の走向に合わせたレプリカの撮影が可能
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報反射用レプリカ解析システム『ASA-03RXD』
【仕様構成(抜粋)】
■反射用レプリカ撮像ユニット
・画像撮像CCD カメラ
・平行光照射装置
・反射用スライドスロットル
・反射用キャリブレ－ションディスク
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | 【測定例】 ■シワ解析 ■キメ解析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログ反射用レプリカ解析システム『ASA-03RXD』
取扱企業反射用レプリカ解析システム『ASA-03RXD』
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