反射用レプリカ解析システム『ASA-03RXD』

『ASA-03RXD』は、高性能デジタル画像処理により、高精度な測定ができる
反射用レプリカ解析システムです。

採取したレプリカに平行光を角度30度で照射する事により、得られる
キメ・シワ等の形状に応じた陰影画像をCCDカメラで撮像。専用解析ソフトで
画像処理する事によりキメ・シワ等の形状、定量解析を行います。

シワでは得られた解析画像を基に深度に応じて色が変化するため、
合成画像による深度の変化が捉えやすくなりました。

【特長】
■専用の解析ソフトはキメ・シワ等の識別を自動認識で行い、個数、体積、
　面積等を自動的に計算するとともに、識別された部位を着色表示できる
■高性能デジタル画像処理により、高精度な測定が可能
■採取したレプリカを専用マウントに固定する事により、レプリカ自体の変形、
　位置ずれが少なく、キメ・シワ等の走向に合わせたレプリカの撮影が可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 （詳細を見る）