蛍光X線膜厚計用検査システム『Mekki-Note』ＳＡＹコンピュータ

【国内/海外蛍光X線膜厚計に対応！】蛍光X線膜厚計からの測定値の自動入力、試験成績書の自動発行により大幅な作業時間の短縮を実現！

『Mekki-Note』は、蛍光X線膜厚計で測定しためっき厚から検査結果を記録
するシステムです。測定箇所をシステムで管理し、蛍光X線膜厚計からの
自動入力及び、試験成績書の出力が行えます。また、記録したデータを元に
Xbar-R管理図の出力ができるので品質管理にご利用いただけます。

【特長】
■蛍光X線装置からの測定値の自動入力、試験成績書の自動発行により
　大幅な作業時間の短縮と人為的コストの省力化を実現。
■自動化によりデータ改ざん防止や人為的なミスの抑止。
■製品毎の測定箇所と検査項目のマスタ化により多品種少量生産に対応。
■測定値のデータベース化により瞬時にXbar-R管理図での出力が可能。

※詳細は資料請求して頂くかダウンロードからPDFデータをご覧ください。

関連リンク - https://www.saycom.jp/product/mekki-note/

基本情報蛍光X線膜厚計用検査システム『Mekki-Note』

【システム概要】
■製品の検査を行い、検査結果から試験成績書を作成
■検査は目視での確認結果の入力に加え、
　蛍光X線膜厚計で測定した検査データの取込みも可能
■入力された検査結果はクラウドサーバに蓄積されるため
　複数の拠点から確認が可能
■蓄積されたデータを品目、測定箇所毎に集計し、Xbar-R管理図を出力
■特採申請やXbar-R管理図での警告など、重要な情報はメールでお知らせ
■検査マニュアルの表示や特採申請、検査結果の承認機能など、
　製造現場の検査業務で必要な機能がパッケージ
■オンプレミス構成でのサーバ構築にも対応可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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