蛍光X線膜厚計用検査システム『Mekki-Note』

『Mekki-Note』は、蛍光X線膜厚計で測定しためっき厚から検査結果を記録
するシステムです。測定箇所をシステムで管理し、蛍光X線膜厚計からの
自動入力及び、試験成績書の出力が行えます。また、記録したデータを元に
Xbar-R管理図の出力ができるので品質管理にご利用いただけます。

【特長】
■蛍光X線装置からの測定値の自動入力、試験成績書の自動発行により
　大幅な作業時間の短縮と人為的コストの省力化を実現。
■自動化によりデータ改ざん防止や人為的なミスの抑止。
■製品毎の測定箇所と検査項目のマスタ化により多品種少量生産に対応。
■測定値のデータベース化により瞬時にXbar-R管理図での出力が可能。

※詳細は資料請求して頂くかダウンロードからPDFデータをご覧ください。 （詳細を見る）