株式会社威海華菱光電股份有限公司(WHEC) ≪カスタム対応≫表面検査用CIS(コンタクトイメージセンサー)

光源角度選択可!最速9.0m/sec(300dpi)、省スペースで取付も簡単な表面検査用CIS

CISは非常に小さな等倍レンズにより受光素子に画像を形成させてライン単位で原稿に密着して読み取ります。このため、通常のレンズを使ったCCDに比べて装置が小型・軽量化できます。また、長尺の対象物にも単体で使用でき、各種外観検査に導入しやすい製品です。

印刷検査やフィルム検査、PCB検査、アパレル検査にご活用いただける
『表面検査用CIS』。

読取幅は18mm~1960mm、解像度は最大1200dpi。カスタム対応も承ります。

「Camera Link BASE」「Camera Link FULL」「CoaXPress 1.1」の3種類を
取り揃えております。ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。

【特長】
■読取幅:18mm~1960mm
■速度:最速9.0m/sec (300dpi)
■解像度:最大1200dpi
■等倍読取
■省スペース
■取付簡単

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

基本情報≪カスタム対応≫表面検査用CIS(コンタクトイメージセンサー)

【技術仕様(一部)】
<Camera Link BASE>
■読取幅(mm):310/650/940/1500/1960
■解像度(dpi):100/200/300/600
■光源:内蔵白光、R/G/B(或は外部光源)
■焦点距離(mm):0.9~29.3
■ガラス厚さ(mm):1.8

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

価格帯 お問い合わせください
納期 お問い合わせください
用途/実績例 【用途】
■印刷検査
■フィルム検査
■PCB検査
■アパレル検査

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カタログ≪カスタム対応≫表面検査用CIS(コンタクトイメージセンサー)

取扱企業≪カスタム対応≫表面検査用CIS(コンタクトイメージセンサー)

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株式会社威海華菱光電股份有限公司(WHEC) 日本開発センター

■コンタクトイメージセンサーの技術開発 ■磁気イメージセンサーや静電容量イメージセンサーの開発

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