コヒレント・ジャパン株式会社 【応用事例】表面とサンプルのアブレーション
- 最終更新日：2024-06-18 12:01:48.0
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元素/同位体分析を改善！高い信号対雑音比でより良いデータを取得します
当社の製品では、USPレーザで表面をテクスチャリングするか、分析方法に
ナノ秒またはウルトラファーストレーザを使用します(例: LIBS、LA-ICP-MS)。
強靭で繊細な材料の表面はすべて、熱損傷なしにウルトラファーストレーザビーム
またはUVエキシマレーザでパターン化可能。
193nmのエキシマレーザは、粒子サイズが小さく、信号強度が高く、固有の分別が
低くなっています。
【特長】
■ナノ秒レーザフレアを使用して、高い信号対雑音比でより良いデータを取得
■エキシマレーザまたはfsレーザ増幅器を使用して、固体サンプルの元素および
同位体組成を分析
■レーザ誘起周期構造(LIPS)を含む究極の表面パターンを作成
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基本情報【応用事例】表面とサンプルのアブレーション
【ラインアップ】
■COMPEX
■MONACO
■GEOLASHD
■EXCISTAR
■FLARE NX
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カタログ【応用事例】表面とサンプルのアブレーション
取扱企業【応用事例】表面とサンプルのアブレーション
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米国COHERENT Corp社製レーザの輸入販売業務及び技術サービス
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