当社は、露点計をはじめとした計測器・校正器を幅広く取り扱っています。
今回はラインアップの中から半導体業界向けの製品をご紹介します。
【製品ラインアップ】
■CRDS（キャビティリングダウン分光法）簡易型微量分析計「Spark H2O」
測定濃度0～2000ppm、測定精度±4％ or 検出下限
【水分量の無償測定を実施中です】
微量分析計「Spark H2O」を使用した測定を無償で承ります。
以下の「お問い合わせ」よりお申し込みください。
※環境によって測定ができない場合がございます。予めご了承ください。
■オンライン露点計「TK-100ON」
■高分子式露点計「TE-660TR」
■ミラー（鏡面冷却）式露点計「MBW973」
■風速トランスミッター「EE671」
■ガルバニ式酸素濃度計「2001LC」
■温湿度計「EE310」「EE08」「EE061」
■低露点校正器「FPG」
■温湿度校正器「CGS240」
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報テクネ計測『半導体業界向け製品のご紹介』
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| 価格帯 | お問い合わせください |
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| 用途／実績例 | ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
取扱企業テクネ計測『半導体業界向け製品のご紹介』
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国産露点計ＴＫ−１００シリーズの製造・販売を中心とし、以下の商品を取扱う。 １．計測器・装置の製造・販売 露点計TK-100/TE-660 シリーズ フロート式流量計 NFMシリーズ 精密加湿装置 制御盤 ２．計測器の代理店販売 AMI 酸素濃度計 Micrafilter フィルター E+E Elektronik 湿度計 露点計他 CMC 腐食性ガス中水分計 MBW 鏡面冷却式露点計（ミラー式） Neutronics 酸素濃度計 Process Insight(PI) 各種ガス分析計 ３．校正･点検・修理業務 各測定器校正サービス 現地（出張）点検・校正・サービス
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